村田貼片電容庫(kù)存老化問(wèn)題:如何通過(guò)參數(shù)檢測(cè)篩選良品?長(zhǎng)期存放的村田貼片電容是否會(huì)出現(xiàn)性能衰減?數(shù)據(jù)顯示,未使用的MLCC在存儲(chǔ)3年后,約有15%可能出現(xiàn)參數(shù)漂移(來(lái)源:ECIA, 2021)。這種現(xiàn)象不僅影響電路穩(wěn)定性,更可能造成批量產(chǎn)品失效。核心參數(shù)檢測(cè)方法容值穩(wěn)定性測(cè)試使用LCR測(cè)試儀測(cè)...